Concept information
Preferred term
microscopia de fuerza atómica
Type
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Topic
Definition
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Tipo de microscopia de sonda de barrido en el que una sonda recorre sistemáticamente la superficie de una muestra que está siendo escaneada en una trama de barrido. La posición vertical es registrada a medida que un resorte conectado a la sonda sube y baja en respuesta a los puntos más altos y más bajos de la superficie. Estas desviaciones generan un mapa topográfico de la muestra.
Broader concept
In other languages
-
English
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magnetic force microscopy
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piezoresponse force microscopy
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scanning force microscopy
URI
https://lod.nal.usda.gov/nalt/188543
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}